膜表面電位是一個負反饋放大——輸出系統(tǒng)，與被保護物(如埋地管道)構(gòu)成閉環(huán)調(diào)節(jié)，通過參比電極測量通電點電位，作為取樣信號與控制信號進行比較，實現(xiàn)控制并調(diào)節(jié)極化電流輸出，使通電點電位得以保持在設(shè)定的控制電位上。
 

　　膜表面電位的工作原理是將參比信號經(jīng)阻抗變換后與控制電位加到比較放大器，經(jīng)比較放大后，輸出與誤差成正比的信號。在儀器處于“自動”工作狀態(tài)下，該信號加到移相觸發(fā)器，移相觸發(fā)器根據(jù)該信號電壓的小，自動調(diào)整觸發(fā)脈沖的產(chǎn)生時間，改變極化回路中可控硅的導(dǎo)通，從而改變輸出電流、電壓的大小，以至達到參比電位等于給定電位，這個過是在不斷進行的。
 

　　膜表面電位主要是測量分散體系中帶電顆粒的，廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代科研、生產(chǎn)領(lǐng)域。比如在工業(yè)廢水、江河飲用水采水處理中，我們希望添加適合的絮凝劑，使水分散體系趨向于極不穩(wěn)定、水分散體系中的帶電顆粒絮凝成大團并沉降，從而獲得干凈的水體。而相反的例子是在造紙工業(yè)中，我們希望調(diào)配較佳的漿體環(huán)境，使紙漿分散體系趨向于非常穩(wěn)定、紙漿分散體系中的帶電顆粒以極小微粒分散，從而獲得光潔平滑的紙張。
 

　　儀器采用了高靈敏度測量技術(shù)，是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與分析儀，可檢測粒徑從0。1nm到12。30μm，濃度從0。00001%到40%的樣品的粒徑。在半導(dǎo)體，醫(yī)藥和食品行業(yè)，陶瓷和顏料工業(yè)，聚合物和化工領(lǐng)域有較好的應(yīng)用。